熱門(mén)搜索：掃描電鏡，臺(tái)式掃描電鏡，制樣設(shè)備CP離子研磨儀，原位樣品桿，可視化顆粒檢測(cè)，高分辨臺(tái)式顯微 CT，粉末原子層沉積系統(tǒng)，納米氣溶膠沉積系統(tǒng)
您好，歡迎訪(fǎng)問(wèn)復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司！ 咨詢(xún)熱線(xiàn)：18516656178
Related articles
您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 飛納電鏡 > 掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測(cè)
結(jié)合飛納臺(tái)式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測(cè)系統(tǒng)，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺(tái)式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶(hù)檢驗(yàn)、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個(gè)*工具。
Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖佟⒁子煤统逦鷪D像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶(hù)提供了分析顆粒和粉末試樣的*工具。
電話(huà)4008578882
傳真 
郵箱cici.yang@phenom-china.com
公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng)T5，705室
在線(xiàn)交流